原子力显微镜是表征材料微观力学性质的重要手段，基于原子力显微镜的纳米力学测试技术凭借其无损、快速、高分辨的面扫信息得到广泛的关注和应用。该案例以原子力显微镜纳米力学表征中的主要方法：压痕法和双模纳米力学法为基础，探究薄膜/基底材料与多层二维材料杨氏模量测定过程中的影响因素，分析了基底硬度、二维材料厚度以及环境湿度对两种纳米力学表征结果的影响，为研究适用于纳米材料微观力学的测定提供参考。该案例已发表在电子显微学报。