宋顺义，杨紫琼，黄奕铭，张伟
提出了基于等厚干涉，明暗条纹形状与间距变化的的原理，通过观察相干光产生的干涉条纹。精确测量出条纹形状变化，然后进行数据传输与处理，得出光学仪器的平整度。用这种方式测量光学仪器表面平整度，有着高精度和简便的优点。
宋顺义,杨紫琼,黄奕铭,张伟.利用劈尖干涉测量平整度[J].科研仪器案例成果数据库,2023,(0).
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